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研究紹介 高橋,樋上,王

LSIのテスト・故障診断に関する研究
高橋 寛(電子情報工学専攻),樋上 喜信(電子情報工学専攻),王 森岭(電子情報工学専攻)

コンピュータシステムを基盤とする現代社会において、人々が、安心・安全に暮らすためには、コンピュータシステムの高度信頼化技術に関する研究が必要不可欠です。本研究グループはでは、コンピュータの構成要素である高集積回路(LSI)に着目し、そのLSIの開発・製造をより早く、より安く、そしてより高品質に行うための研究を行っています。具体的には、製造したLSIの良品/不良品判定に対する高精度・高効果な「テスト手法」の研究を行っています。また、欠陥の生じたLSIに対して何が原因なのかを短期的に調べるための「故障診断技術」の研究を行っています。

社会への貢献としては、年々難しくなっているナノメータ時代のLSIテスト・診断技術に関する共同研究を半導体理工学研究センターと行っています。この共同研究では、超微細化プロセスのLSIに対する新しい故障診断モデルとその故障検査法を提案しています。本研究グループの卒業生は研究分野に近い企業・半導体メーカーで活躍しています。


[ キーワード ]  計算機システム  LSIのテスト   故障診断